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真空鍍膜塗層膜厚測量方式?

作者: 來源: 日期(qī):2021-07-14 12:19:06 人氣:1108
       麻豆app下载入口日常生活中,很多生(shēng)活物(wù)品都經(jīng)過鍍膜機鍍上了一層膜層,讓產品(pǐn)不僅變得(dé)更美觀,也更實用。但是很多(duō)人會有一個疑問,那既然是鍍了一(yī)層膜層,薄膜肯定是有厚度大小的,那(nà)麽(me)薄膜厚度具體多厚呢,以(yǐ)及怎麽去測量?

       薄膜必須(xū)沉積(jī)在基底之上, 所以離開了基(jī)片也(yě)就無從談薄膜(mó)沉積的問題。基片的清洗(xǐ)好壞又對薄膜的質最(zuì)有極共重要的影(yǐng)響。同時在薄膜的製作中還必須知道薄膜的厚度,脫(tuō)離了(le)薄膜的厚度來談薄膜性質的測最也是亳無意義(yì)的。 所以, 膜厚的測量和基片的清洗可以說是和(hé)薄膜製作相關的重(chóng)要(yào)技術。一般所謂的(de)厚度是指兩個完全平整的平行平麵之間的距離,這個概(gài)念是一個幾何(hé)概念。

        理想的薄膜厚度是指基片(piàn)表麵和薄膜表麵之間的距離。在(zài)薄(báo)膜形貌的三維度量(liàng)中,相對於薄膜的厚度(dù)來講,其他兩維的度量(liàng)可以說是無窮大。由於實際上存在的表麵是不平整和不連續(xù)的,而且薄膜的內部還可能存在著氣孔、雜質、晶格缺陷和(hé)表麵吸附分子等等,所有要嚴格地定義和精確地(dì)測量薄膜的厚度實際上是很困難的。

        膜厚的定義位當(dāng)根據測址的(de)方法和(hé)測址(zhǐ)的目的決定。 因此,同一個(gè)薄膜,使用不同的測量方法會得到不同的結果, 即不同的厚度。

        在薄膜油測量中的表麵並不是一個幾何的(de)概念,而是一個 物埋概念,是指表(biǎo)麵分子(原子)的集合。 平均表麵是指表麵原子所有的點到這個麵的距離代數和(hé)等於(yú)零, 平均(jun1)表麵是一個兒何概念。

        麻豆app下载入口通常(cháng)將基片(piàn)的一側的表(biǎo)麵分子的(de)集合的平均表麵稱(chēng)為基片表麵;薄膜上不和基片接(jiē)觸(chù)的那一側的表麵的平均表麵稱為薄膜的形狀表麵(miàn),將所測量的薄(báo)膜原子重新排列,使其(qí)密度和大塊狀(zhuàng)固體材料完全一(yī)樣(yàng)且均(jun1)勻的分布在基片表麵上,這時平均表麵稱為薄膜質量(liàng)等(děng)價表麵;根據(jù)所測量薄膜的(de)物理性質等效為一種長度和寬度與所(suǒ)測量的薄膜一樣的(de)大塊固體材料的(de)薄膜,這時的平均表麵稱為薄膜物性等(děng)價表麵。 形狀(zhuàng)膜厚是比較接(jiē)近於直觀形式的膜厚, 通常以µm為單位; 質量膜厚反映(yìng)了薄膜中(zhōng)包含物質為多少,通常 以 µg/cm#8217;為(wéi)單位, 物性膜厚在實際使用上較有用, 而且比(bǐ)較容易測量。

         由於實際(jì)表麵並不平整,同時薄膜製作過程中又不可避免地要有各種(zhǒng)缺陷、 雜質和吸附分子等存在,所以不管用哪 一種方法來定義和測量膜厚,都是(shì)一個平均值,而且足包括了(le)雜質(zhì)、缺(quē)陷(xiàn)以及吸附(fù)分子在內的薄膜的厚度值。

        真(zhēn)空鍍膜機鍍膜是在真空腔(qiāng)體下進行鍍膜的,對於測量膜厚度(dù)來說,是需要(yào)這方麵專業的測量儀才能測出厚度大小。
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