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真空鍍膜塗層(céng)膜厚測量方式?

作者(zhě): 來源(yuán): 日期:2021-07-14 12:19:06 人氣:1107
       麻豆app下载入口日常生活(huó)中,很多生活物品都經過鍍膜機鍍上了一層膜層,讓產(chǎn)品不僅變得更美觀,也更實用。但是很多人會有一個疑問,那既然是鍍了一層膜(mó)層,薄膜肯(kěn)定是有厚度(dù)大小的,那麽薄膜(mó)厚度具體多(duō)厚呢(ne),以及(jí)怎麽去測量?

       薄膜必須(xū)沉積在基底之上, 所以離開了基片(piàn)也就(jiù)無從談薄(báo)膜沉積(jī)的問題。基片的清洗好(hǎo)壞又對薄膜的(de)質最有極共重要的(de)影響。同時(shí)在薄(báo)膜的製作中還必須知道薄膜的厚度,脫離了薄膜的厚度來談薄膜性質的測最也(yě)是亳無意義的。 所以, 膜厚的測量和基片的清洗可以說(shuō)是和薄膜製作(zuò)相關的重要技術。一般(bān)所謂的厚度是指兩個完全平整的平(píng)行平麵之間的(de)距離,這個概念是(shì)一個幾何概念。

        理想(xiǎng)的薄膜厚(hòu)度是指基片表麵和薄膜表麵之間的距離。在薄(báo)膜形貌的三維度量中,相對於薄膜的厚度來講,其他兩維的度量可以說是無窮大。由於實際上存在的表麵是不平整和不(bú)連續的,而且薄膜的內部還可能存(cún)在著氣孔、雜質、晶格缺陷和表(biǎo)麵(miàn)吸附分子等(děng)等,所有要嚴格地定義和精確地測量薄(báo)膜的厚(hòu)度實際上是很困難的。

        膜厚的定義位當根(gēn)據測址的(de)方法和測(cè)址的目的決定。 因此,同一個薄膜,使用不同的測量方法會(huì)得到不同的(de)結果, 即不同的厚度。

        在薄膜油測量中的表麵並不是一個幾何的概念(niàn),而(ér)是一個 物埋(mái)概念,是指表麵分(fèn)子(zǐ)(原子)的集合。 平均表麵是指表(biǎo)麵原子所有的點到這個麵的距離代數和等於零, 平均表(biǎo)麵是一個兒何概念。

        麻豆app下载入口通常將基片的一側的表麵分子的集合的(de)平均表麵稱(chēng)為基片表(biǎo)麵;薄膜上不和基(jī)片接觸的那一(yī)側的(de)表麵的(de)平均表麵(miàn)稱為薄膜的形狀表麵,將所測量的薄膜原子重新排列,使其密度和大塊狀(zhuàng)固體材料完全一樣且均勻的分布在基片表麵上,這時(shí)平均表麵稱為薄膜質量等價(jià)表麵;根據所測量(liàng)薄膜的物理性質等效為一種長度和寬度與所測量的薄膜一樣的大塊固體材料的薄膜,這時的平均(jun1)表(biǎo)麵稱為薄膜物性等價(jià)表麵。 形狀膜(mó)厚是比較接近(jìn)於直觀形式的(de)膜厚, 通常以µm為單位; 質量膜厚反映了薄膜中包含物質為多少,通常 以(yǐ) µg/cm#8217;為單位, 物性膜厚在實際使用上較(jiào)有用, 而且比(bǐ)較容易測量。

         由於實際(jì)表麵並不平整,同時薄膜製作過程中又不可避免地要有各種缺陷、 雜質和吸附分子等存在,所(suǒ)以不管用哪 一種方法來定義(yì)和測量(liàng)膜厚,都是一個平均值,而且足包括了(le)雜質、缺陷(xiàn)以及吸附分子在內的薄膜(mó)的厚度(dù)值。

        真空鍍膜機鍍(dù)膜是在真空腔體下進行鍍膜的,對於測量膜(mó)厚度來說,是需要這方麵專業的測量儀才能測出厚度大(dà)小。
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